Osciloscopios
Conceptos básicos
- Conceptos básicos de osciloscopios (XYZ of Oscilloscopes - Inglés - Nueva versión)
- Conceptos básicos de osciloscopios (XYZ de los osciloscopios - Español)
- Conceptos básicos de osciloscopios de canales aislados y medidas de tensiones flotantes
- Conceptos básicos de los osciloscopios DPO con tecnología de fósforo digital (DPX)
- Conceptos básicos sobre los osciloscopios Multi-Dominio (MDO)
- Concepto de Bits Efectivos (ENOB: Effective Number of Bits)
- Conceptos básicos sobre el disparo de los osciloscopios - Tipos de disparos
- Conceptos básicos de las sondas de osciloscopios (ABC of Probes)
- Conceptos básicos y terminología (Tutorial) sobre las sondas de osciloscopios
- Conceptos básicos sobre la integridad de las señales adquiridas con osciloscopios
- Conceptos básicos sobre JITTER
- Conceptos básicos del análisis espectral usando FFT (Fast Fourier Transform)
- Conceptos básicos para el análisis y medidas de fuentes de alimentación
- Conceptos sobre conformidad y validación de datos serie
- Conceptos básicos para las pruebas de diseños de potencia eficientes
- Conceptos básicos para las pruebas de fuentes de alimentación - Poster resumen
- Conceptos buses serie SPI-I2C-MIL1553-RS232-CAN-LIN-FlexRay-USB-Ethernet-I2S/LJ/RJ/TDM
- Búsqueda/Marcado automático de eventos definidos por el usuario en memorias de gran longitud
- Algunos consejos sencillos para la elección del osciloscopio adecuado a su aplicación
Educación
- Paquete de información sobre osciloscopios para Educadores y Estudiantes
- 8 Prácticas de laboratorio
- Tektronix Educator's Resource Kit - EDUKIT
Notas de Aplicación
- Análisis del JITTER
- Comprensión y caracterización del JITTER
- Diagramas de ojo
- Captura rápida-discontinua de señales mediante la segmetación de la memoria de un osciloscopio
- Captura rápida-continua de señales mediante la tecnología DPX de los osciloscopios DPO
- Utilización de la memoria segmentada en los osciloscopios (FastFrame)
- Bits efectivos (ENOB) en las medidas con osciloscopios
- Osciloscopios Multi-Dominio - Depuración a nivel de sistema de diseños embebidos con capacidades inalámbricas
- Osciloscopios Multi-Dominio - Localización de fuentes de ruido en sistemas embebidos inalámbricos
- Osciloscopios Multi-Dominio - Implementación y pruebas de radios ZigBee integradas en sistemas embebidos
- Osciloscopios Multi-Dominio - Conceptos básicos
- Pruebas de tolerancia para ITU-T, ANSI T1.102 y USB y definibles por el usuario
- Pruebas de tolerancia "pasa/no pasa" con National Instruments LabVIEW SignalExpressTM TE
- Filtrado de frecuencia variable de señales usando osciloscopios y ajustable por el usuario - FilterVu
- DDRs - Análisis y validación eléctrica de buses de memorias DDR1-DDR2-DDR3
- DDRs - Métodos apropiados de verificación de buses de memorias DDR1-DDR2-DDR3
- Ethernet - Pruebas de conformidad sobre la capa física de 100BASE-TX usando DPO5000 y MSO5000
- CAN y LIN - Simplificación de las pruebas de estas redes
- FPGAs - Depuración de FPGAs de Xilinx y Altera
- HDMI - Software para pruebas de conformidad de HDMI
- PCI Express - Software para pruebas de conformidad de PCI Express
- USB 2.0 - Software para pruebas de conformidad del bus USB 2.0
- USB 3.0 - Soluciones para transmisores y receptores USB 3.0
- UWB- Análisis espectral de señales de Ultra-Wide-Band con osciloscopios
- UWB- Análisis epectral básico de señales de Ultra-Wide-Band con osciloscopios
- VSA/SignalVu - Análisis vectorial de señales (VSA) usando osciloscopios
- VSA/SignalVu+MSO70000=Osciloscopio+Analizador Lógico+Analizador Vectorial Señales con adquisiciones en correlación temporal (en sincronismo)
- Depure su diseño con los osciloscopios TDS2000C
- Depuración de diseños digitales - Guia
- Depuración buses serie SPI-I2C-MIL1553-RS232-CAN-LIN-FlexRay-USB-LAN-I2S/LJ/RJ/TDM
- Depuración de buses serie de baja velocidad con los osciloscopios DPO5000 y MSO5000
- Depuración de circuitos digitales utilizando osciloscopios dotados de canales digitales
- Sistemas embebidos - Depuración de diseños con señales mixtas (analógicas/digitales)
- Sistemas embebidos - El reto de las pruebas y medidas
- Sistemas embebidos - Guia de diseño de sistemas embebidos con señales mixtas
- Sistemas embebidos - Técnicas de diseño para optimización de los parámetros de control
- Diseño y Depuración de Fuentes de Alimentación Conmutadas
- Paquete de notas técnicas de osciloscopios de las series 2000, 3000 y 4000
- Metrología y Calibración
VIDEOS
- Análisis automático de potencia (DPO4PWR) - 3:23 minutos
- Herramientas de análisis de Jitter y Diagramas de Ojo (DPOJET) - 2:38 minutos
- Análisis automático de Ethernet (TDSET3) - 2:38 minutos
- Pruebas de conformidad automáticas sobre la capa física de USB 2.0 (TDSUSB2) - 2:27 minutos